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介質(zhì)損耗試驗的目的
點(diǎn)擊次數:2140 更新時(shí)間:2020-08-06
介質(zhì)損耗試驗的目的
介質(zhì)損耗試驗的目的是通過(guò)測量介質(zhì)損耗因數來(lái)判斷設備絕緣性能。一般使用西林電橋、電流比較型電橋、M型介質(zhì)試驗器等儀器進(jìn)行試驗。
測量介質(zhì)損耗因數在預防性試驗中是*的項目。因為電氣設備介質(zhì)損耗因數太大,會(huì )使設備絕緣在交流電壓作用下,許多能量以熱的形式損耗,產(chǎn)生的熱量將升高電氣設備絕緣的溫度,使絕緣老化,甚至造成絕緣熱擊穿。
絕緣能力的下降直接反映為介質(zhì)損耗因數的增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因,如:絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。
所以,在出廠(chǎng)試驗時(shí)要進(jìn)行介質(zhì)損耗的試驗,運行中的電氣設備亦要進(jìn)行此種試驗。測量介質(zhì)損耗的同時(shí),也能得到試品的電容量。電容量的明顯變化,反映了多個(gè)電容中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路、斷路。
擴展資料
在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量電介質(zhì)的損耗。
當電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。
tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數。儀器測量線(xiàn)路包括一標準回路(Cn)和一被試回路(Cx)。
標準回路由內置高穩定度標準電容器與測量線(xiàn)路組成,被試回路由被試品和測量線(xiàn)路組成。測量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉換器組成。
通過(guò)測量電路分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位等,再由單片機運用數字化實(shí)時(shí)采集方法,通過(guò)矢量運算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。